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CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS

Microscopio Electrónico de Barrido (SEM por sus siglas en inglés)

El microscopio SEM EVO HD25 con el que cuenta el CLPU ha sido suministrado por la casa Carl Zeiss Microscopy.

El procedimiento de trabajo del SEM consiste en escanear la superficie de un espécimen con un haz focalizado de electrones acelerados. Los distintos tipos de señales procedentes de la interacción de este haz de electrones con la muestra, pueden ser recogidos por los detectores instalados en la cámara de vacío y procesados por un programa de control con el que se obtienen imágenes en alta resolución (< 10 nanómetros)

Especificaciones:

  • Cañón termoiónico de electrones con filamento LaB6 (EVO*HD está equipado con una fuente de alto brillo que, para voltajes de aceleración bajos, aumenta hasta 10 veces el brillo en comparación con filamentos LaB6 estándar)
  • Gran cámara de vacío de 420 mm de diámetro y 330 mm de altura
  • Plataforma para muestras motorizada en 5 ejes
  • Carrusel para albergar hasta 9 muestras (bases de 12 mm)
  • Rangos de presión de trabajo: alto vacío (10-4 Pa) y presión variable (10-273 Pa)

Detectores:

    • SE – Detector de Electrones Secundario tipo Everhart-Thornley: permite trabajar en un amplio rango de voltajes (1kV - 30 kV) para obtener información topográfica y estructural de la superficie de la muestra.
    • VPSE – Detector de Electrones Secundarios en modo Presión Variable: adecuado para impedir efectos de carga en muestras no conductoras. El gas neutraliza los electrones atrapados en la superficie, de forma que estabiliza la emisión de electrones secundarios.
    • BSD – Detector de Electrones Retrodispersados de 5 segmentos: la emisión de electrones retrodispersados de una muestra está relacionada con el número atómico del material del que está compuesta, por lo que esta técnica es de interés en Geología, Metalurgia, Física de Materiales, etc. Además, en su modo topográfico, puede revelar detalles superficiales con gran calidad.
    • STEM – Detector de Microscopio Electrónica de Barrido por Transmisión: en este tipo de microscopio, el detector se sitúa debajo de la muestra, por lo que ésta tiene que ser lo suficientemente fina para que los electrones la pueda atravesar. La configuración permite que el detector, de tipo diodo, se sitúe a muy poca distancia de la muestra, mejorando así la resolución, que es comparable a la de un BFTEM. Puede trabajar en modo de presión variable. 
    • EDS – Detector de Espectroscopía de Energía Dispersada de Rayos X: dispositivo con el que se obtiene la composición química de las muestras mediante el análisis de la emisión de rayos X. Es una técnica muy empleada en Ciencias de Materiales, ya que, además de la información sobre los elementos que contiene la muestra, puede dar información sobre su distribución e incluso sus concentraciones. El detector es tipo SDD 20 mm2 de la marca Oxford Instruments y controlado por el programa AZtec®.
    • EBSD – Detector de Difracción de Electrones Retrodispersados: esta técnica puede determinar la orientación cristalográfica de materiales cristalinos y semicristalinos. El detector HKL Nordlys de Oxford Instruments está controlado por el programa AZtec® y cuenta con el programa de análisis CHANNEL 5 ®. Más detalles sobre esta técnica en http://www.ebds.com/

 

 

 

Requisitos Generales para las muestras (descargar) - ACTUALIZADO

La calidad de las imágenes dependen en gran medida de la preparación de la muestra, por lo que esto resulta fundamental cuando se quieren obtener imágenes de alta resolución. El CLPU no se encargará de la preparación de las muestras. Los usuarios serán en todo momento responsables de su correcta preparación (recubrimiento, pulido, corte…) según se indica en los requisitos generales (actualizados 04/2020) que pueden descargarse aquí.